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美国科诺研制版本光学接触角仪中标 "香港科技大学纳米与材料研究院"。这是科诺产物推向应用用户的一个新里程，也是对科诺产物的性能、技术、服务的一个肯定。

美国科诺将继续加大亚太地区的研发投入，与广大用户和同行一起不断提升光学法界面化学分析的关键技术，扩大界面化学分析仪器应用范围。
比如，美国科诺已经在界面化学Young-lalapalace方程拟合技术上取得重大突破，不久就将引入第四代真实液滴法（TrueDrop） Y-L方程拟合求解界面张力、振荡分析、接触角分析的技术。这是一种突破，实现了由BA表*代拟合技术和1996年德国柏林理工大学的Spinger教授提出的基于“B”概念的Young-Lapalace方程拟合法的第二代拟合技术，至Newmann教授的龙格库拉解法下的第三代拟合技术，向第四代基于真实液滴法（RealDrop^TM）法的驰辞耻苍驳-尝补辫补濒补肠别拟合技术突破。第四代技术的关键点在于，我们将利用美国科诺强大的图像分析技术，真正解决*代与第二代技术的经验性假设误差、第叁代技术自动化程度的关键问题，从而提高了分析速度、重复性、人为因素影响等对界面张力测值的影响。此时，明显的表现是，我们不再像第二代技术那种必须假设取得理想的叠=0.7时需要根据经验和估算界面张力值，选用相应针头的问题。我们认为，界面张力测值与针头的直径的选取就是一个经验判断。这个判断会造成相当的误差与人为影响。